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Influence of ELMs on Edge Temperature and Density Profiles in TCV (2005)
Alfier, A.
,
Behn, R.
,
Nielsen, P.
,
Pasqualotto, R.
,
Zhuang, G.
,
Martin, Y.
,
Schombourg, K.
Details der Publikation
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http://infoscience.epfl.ch/record/124387
Archiv
Infoscience | Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (Switzerland)
Typ
Text
Sprache
Englisch