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Publikationsansicht
38361208
Non-interferometric transient quantitative phase microscopy for ultrafast engineering (2008)
Horn, A.
,
Mingareev, I.
,
Werth, A.
,
Kachel, M.
,
Brenk, U.
Details der Publikation
Archiv
Fraunhofer Publica (Germany)
Typ
Journal Article
Sprache
english
Verknüpfungen
Applied physics. A, Vol.93 (2008), No.1, pp.165-169