Publikationsansicht

Comparison of power deposition profiles during ELMs using Langmuir probes and Infra-Red Camera diagnostic at JET (2009)

Details der Publikation

Download	http://edoc.mpg.de/437502
Herausgeber	European Physical Society
Archiv	Max Planck Society - eDocument Server (Germany)
Typ	Conference-Paper
Sprache	Englisch